EDX-Pocket-Ⅱ能量色散X荧光光谱仪 利用蓝牙无线控制，全球首创！ 继EDX2800风靡整个行业之后，其另一有力搭档,全球体积最小，重量最轻的EDX-Pocket-Ⅱ应运而生。 流线型的外形，带给您全新的视觉冲击；高贵大方的色彩，尽显尊贵与稳重的独特魅力；精巧的内核，真正实现科技的浓缩之美；严谨的保护装置，实现安全的防火墙；小巧轻便，将人性化理念落实入微。 EDX-Pocket-Ⅱ是一款专为户外、大型工程、移动检测研制开发的全新XRF。只需片刻，它即可实现对RoHS指令中元素的全面测量。这款从酝酿开发都产品问世历时几载的全新理念仪器，满载着天瑞人凝重的智慧和心血。 它是一款真正意义上实现了现场测试的理念仪器，无阻隔，无局限，一切将变得轻松！ ◆◆技术指标: ◆型号：EDX-Pocket-Ⅱ ◆检测对象：金属材料、矿石样品、陶瓷、RoHS检测等多行业多领域，各种材料中的（Pb、Hg、Br、Cd、Cr） ◆激发源：40KV-银靶微型X光管 ◆X射线光束直径：6 mm ◆滤光片：双滤光片自由切换 ◆检测时间：一般检测时间为10s-200s ◆检测范围：（S~U）加装充氦气装置可使测试范围扩大到（Na~U） ◆检测下限：以塑料样品为例 Cd：15 ppm ；Pb，Hg：8 ppm； Br：8 ppm ；Cr：25 ppm ◆校正方式：欧盟RoHS塑胶标样，校正数据 ◆安全性：自带密码管理员模式，数据可随意保存 ◆使用性：测试数据可导入PC机进行保存打印，配备海量存储卡 ◆电池使用时间：5小时

Thick 800 Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量.应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。 ◆◆技术指标： ◆元素分析范围：从K到U ◆一次性可同时分析多层镀层 ◆分析厚度检测出限最高达0.01um ◆同时可分析多达5层以上镀层 ◆相互独立的基体效应校正模型，先进厚度分析方法 ◆多次测量重复性最高可达0.01um ◆长期工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品） ◆温度适应范围：15℃~30℃ ◆输出电压220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源） ◆◆配置 ◆开放式样品腔 ◆二维移动样品平台 ◆探测器和X光管上下移动可实现三维移动 ◆双激光定位装置 ◆准直器自动切换装置 ◆玻璃屏蔽罩 ◆正比计数盒探测器 ◆信号检测电子电路 ◆高低压电源 ◆X光管 ◆计算机及喷墨打印机 ◆样品腔尺寸：517mm×352mm×150mm ◆外型尺寸：648mm×490mm×544mm

EDX3000D能量色散X荧光光谱仪 ◆采用国际上先进的由美国生产的半导体制冷的新型探测器，电制冷，无需液氮制冷，可常温保存，使用方便。同时这款探测器内置信噪比增强器，提高了仪器精度和检出下限，金属的有害物质检出限比原有探测器高出近5倍。可用于玩具安全检测。 ◆◆技术指标 ◆测量元素:从硫至铀等 75 种元素 ◆元素含量分析范围:1ppm-99.99% ◆RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br） ◆测量时间: 60-300s ◆能量分辨率为： 155±5eV ◆测量精度: < 0.05% ◆高压：5-50kV ◆管流：50-1000uA ◆温度适应范围： 15-30℃ ◆相对湿度：≤70％ ◆仪器功率：≤90瓦 ◆电源：交流 220±5V（建议配置交流净化稳压电源） ◆超大样品腔，尺寸Φ450×90mm ◆一次可同时分析24个元素 ◆重量：110kg ◆◆配置 ◆移动样品平台 ◆加强的金属元素感度分析器 ◆放大电路 ◆信噪比增强器（SNE） ◆计算机、喷墨打印机 ◆自动选择滤光片 ◆多种准直器自动自由切换 ◆三重安全保护模式 ◆相互独立的基体效应校正模型 ◆多变量非线性回归程序 ◆样品腔上盖自动升降 ◆软件定位样品平台小

EDX2800能量色散X荧光光谱仪 ◆针对RoHS检测设计开发 ◆测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 ◆分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br ◆提供专业玩具安全检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析 ◆◆ROHS指令检测主要技术指标 ◆测量元素:从硫至铀等 75 种元素 ◆元素含量分析范围:1ppm-99.99% ◆RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br） ◆检测限最高达 1ppm ◆测量时间: 60-300s ◆能量分辨率为： 160±5eV ◆高压：5-50kV ◆管流：50-1000uA ◆温度适应范围： 15-30℃ ◆电源：交流 220±5V（建议配置交流净化稳压电源） ◆重量：60kg ◆自动选择滤光片 ◆多种准直器自动自由切换 ◆电制冷硅针半导体探测器 ◆加强的金属元素感度分析器 ◆三重安全保护模式 ◆相互独立的基体效应校正模型 ◆多变量非线性回归程序 ◆任意多个可选择的分析识别模型 ◆一次可同时分析 24 个元素析 ◆◆仪器基本配置 ◆信噪比增强器 ◆自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品 ◆独特的光路增强系统，方便用户更好地观察样品 ◆测量 RoHS，电镀镀层，全元素分析，一机多用 ◆电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷 ◆特别开发的测量软件，操作界面十分友好 ◆内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品 ◆精准的移动平台，更精确方便地调节样品位置 ◆高贵时尚的外型，带给您全新的视觉冲击 ◆样品腔尺寸：605mm＊395＊70mm

EDX6600能量色散X荧光光谱仪 ◆◆技术指标: ◆测量精度：0.05% ◆分析范围：1PPM~99.99% ◆测试镀层最薄至0.005um ◆测量元素：从硫至铀等75多种元素 ◆测量对象：粉末、固体、液体 ◆工作温度：15－－-30℃ ◆相对湿度：< 70% ◆重 量：30公斤 ◆电 源：AC 110V/220V ◆测量时间：60~300秒 ◆◆仪器配置： ◆单样品腔 ◆计算机、喷墨打印机 ◆硅针半导体探测器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管

EDX3600L能量色散X荧光光谱仪 ◆◆技术指标: ◆分析范围: 1PPM-99.99% ◆同时分析: 几十种元素同时分析 ◆测镀层厚度精确至0.01微米 ◆测量对象: 固体、粉未、液体 ◆测量时间: 60-300 秒 ◆测量精度 : 0.05% ◆分析元素: Na-U ◆工作温度: 15-26℃ ◆相对湿度: ≤70% ◆重量 : 80KG ◆功耗: 200瓦 ◆◆仪器配置： ◆单样品腔 ◆计算机、喷墨打印机 ◆真空泵（可选） ◆压片机（可选） ◆硅针半导体探测器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管

EDX3600能量色散X荧光光谱仪 ◆◆技术指标: ◆分析范围: 1PPM-99.99% ◆同时分析: 几十种元素同时分析 ◆测镀层厚度精确至0.005微米 ◆测量对象: 固体、粉未、液体 ◆测量时间: 60-300 秒 ◆测量精度 : 0.05% ◆分析元素: Na-U ◆工作温度: 15-26℃ ◆相对湿度: ≤70% ◆重量 : 80KG ◆功耗: 200瓦 ◆◆仪 器 配 置： ◆多样自动进样系统 ◆计算机、喷墨打印机 ◆真空泵（可选） ◆压片机（可选） ◆硅针半导体探测器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管

EDX3000能量色散X荧光光谱仪 ◆◆技术指标: ◆分析范围：1PPM~99.99% ◆测量元素：从硫至铀等75种元素 ◆测量对象：粉末、固体、液体 ◆工作温度：15－－-30℃ ◆重 量：30Kg ◆电源：AC 110V/220V ◆测量时间：60~300秒 ◆测量精度：0.05% ◆◆仪器 配 置： ◆单样品腔 ◆计算机、喷墨打印机 ◆硅针半导体探测器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管 无真空腔体

EDX600能量色散X荧光光谱仪 ◆◆技术指标: ◆分析范围 :1PPM－－-99.99% ◆测量时间 :60－－-300 秒 ◆分析精度 :0.1%－－-99.99% ◆测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt ◆测镀层厚度、精度：0.03um ◆重 量 :30KG ◆尺 寸 :350＊500＊400mm ◆X射线源 :X射线光管。 ◆探测器 :正比计数管 ◆◆仪器配置: ◆单样品腔 ◆正比计数器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管

EDX3000B能量色散X荧光光谱仪 ◆针对RoHS检测设计开发 ◆测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 ◆分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br ◆也可以测量镀层厚度 ◆◆ROHS指令检测主要技术指标 ◆分析精度：0.05% ◆样品室尺寸：1000＊1000＊300MM ◆测量时间：60-300秒 ◆工作电源：220U±5U ◆高 压：15-50KV ◆管 流：600μA ◆计数率：1300-8000Cps ◆ ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM ◆检测时间为200秒 ◆电致冷硅针半导体探测器 ◆加强金属元素感度分析 ◆◆仪器基本配置 ◆单样品腔 ◆计算机、喷墨打印机 ◆硅针半导体探测器 ◆硅针半导体探测器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管 ◆无真空腔体