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  • EDX-Pocket-Ⅱ能量色散X荧光光谱仪 利用蓝牙无线控制,全球首创! 继EDX2800风靡整个行业之后,其另一有力搭档,全球体积最小,重量最轻的EDX-Pocket-Ⅱ应运而生。 流线型的外形,带给您全新的视觉冲击;高贵大方的色彩,尽显尊贵与稳重的独特魅力;精巧的内核,真正实现科技的浓缩之美;严谨的保护装置,实现安全的防火墙;小巧轻便,将人性化理念落实入微。 EDX-Pocket-Ⅱ是一款专为户外、大型工程、移动检测研制开发的全新XRF。只需片刻,它即可实现对RoHS指令中元素的全面测量。这款从酝酿开发都产品问世历时几载的全新理念仪器,满载着天瑞人凝重的智慧和心血。 它是一款真正意义上实现了现场测试的理念仪器,无阻隔,无局限,一切将变得轻松! ◆◆技术指标: ◆型号:EDX-Pocket-Ⅱ ◆检测对象:金属材料、矿石样品、陶瓷、RoHS检测等多行业多领域,各种材料中的(Pb、Hg、Br、Cd、Cr) ◆激发源:40KV-银靶微型X光管 ◆X射线光束直径:6 mm ◆滤光片:双滤光片自由切换 ◆检测时间:一般检测时间为10s-200s ◆检测范围:(S~U)加装充氦气装置可使测试范围扩大到(Na~U) ◆检测下限:以塑料样品为例 Cd:15 ppm ;Pb,Hg:8 ppm; Br:8 ppm ;Cr:25 ppm ◆校正方式:欧盟RoHS塑胶标样,校正数据 ◆安全性:自带密码管理员模式,数据可随意保存 ◆使用性:测试数据可导入PC机进行保存打印,配备海量存储卡 ◆电池使用时间:5小时
  • Thick 800 Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定,它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计,而是采用上照式,通过三维的移动和激光定位,实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量.应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测;金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和首饰加工行业;银行、首饰销售和检测机构;电镀行业。 ◆◆技术指标: ◆元素分析范围:从K到U ◆一次性可同时分析多层镀层 ◆分析厚度检测出限最高达0.01um ◆同时可分析多达5层以上镀层 ◆相互独立的基体效应校正模型,先进厚度分析方法 ◆多次测量重复性最高可达0.01um ◆长期工作稳定性小于0.1um(5um左右单镀层样品) ◆温度适应范围:15℃~30℃ ◆输出电压220±5V/50HZ(建议配置交流净化稳压电源) ◆◆配置 ◆开放式样品腔 ◆二维移动样品平台 ◆探测器和X光管上下移动可实现三维移动 ◆双激光定位装置 ◆准直器自动切换装置 ◆玻璃屏蔽罩 ◆正比计数盒探测器 ◆信号检测电子电路 ◆高低压电源 ◆X光管 ◆计算机及喷墨打印机 ◆样品腔尺寸:517mm×352mm×150mm ◆外型尺寸:648mm×490mm×544mm
  • EDX3000D能量色散X荧光光谱仪 ◆采用国际上先进的由美国生产的半导体制冷的新型探测器,电制冷,无需液氮制冷,可常温保存,使用方便。同时这款探测器内置信噪比增强器,提高了仪器精度和检出下限,金属的有害物质检出限比原有探测器高出近5倍。可用于玩具安全检测。 ◆◆技术指标 ◆测量元素:从硫至铀等 75 种元素 ◆元素含量分析范围:1ppm-99.99% ◆RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br) ◆测量时间: 60-300s ◆能量分辨率为: 155±5eV ◆测量精度: < 0.05% ◆高压:5-50kV ◆管流:50-1000uA ◆温度适应范围: 15-30℃ ◆相对湿度:≤70% ◆仪器功率:≤90瓦 ◆电源:交流 220±5V(建议配置交流净化稳压电源) ◆超大样品腔,尺寸Φ450×90mm ◆一次可同时分析24个元素 ◆重量:110kg ◆◆配置 ◆移动样品平台 ◆加强的金属元素感度分析器 ◆放大电路 ◆信噪比增强器(SNE) ◆计算机、喷墨打印机 ◆自动选择滤光片 ◆多种准直器自动自由切换 ◆三重安全保护模式 ◆相互独立的基体效应校正模型 ◆多变量非线性回归程序 ◆样品腔上盖自动升降 ◆软件定位样品平台小
  • EDX2800能量色散X荧光光谱仪 ◆针对RoHS检测设计开发 ◆测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 ◆分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br ◆提供专业玩具安全检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析 ◆◆ROHS指令检测主要技术指标 ◆测量元素:从硫至铀等 75 种元素 ◆元素含量分析范围:1ppm-99.99% ◆RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br) ◆检测限最高达 1ppm ◆测量时间: 60-300s ◆能量分辨率为: 160±5eV ◆高压:5-50kV ◆管流:50-1000uA ◆温度适应范围: 15-30℃ ◆电源:交流 220±5V(建议配置交流净化稳压电源) ◆重量:60kg ◆自动选择滤光片 ◆多种准直器自动自由切换 ◆电制冷硅针半导体探测器 ◆加强的金属元素感度分析器 ◆三重安全保护模式 ◆相互独立的基体效应校正模型 ◆多变量非线性回归程序 ◆任意多个可选择的分析识别模型 ◆一次可同时分析 24 个元素析 ◆◆仪器基本配置 ◆信噪比增强器 ◆自动切换准直器和滤光片,分别针对不同样品 ◆独特的光路增强系统,方便用户更好地观察样品 ◆测量 RoHS,电镀镀层,全元素分析,一机多用 ◆电制冷硅针半导体探测器,摒弃液氮制冷 ◆特别开发的测量软件,操作界面十分友好 ◆内置高清晰摄像头,方便用户随时检测样品 ◆精准的移动平台,更精确方便地调节样品位置 ◆高贵时尚的外型,带给您全新的视觉冲击 ◆样品腔尺寸:605mm*395*70mm
  • EDX6600能量色散X荧光光谱仪 ◆◆技术指标: ◆测量精度:0.05% ◆分析范围:1PPM~99.99% ◆测试镀层最薄至0.005um ◆测量元素:从硫至铀等75多种元素 ◆测量对象:粉末、固体、液体 ◆工作温度:15---30℃ ◆相对湿度:< 70% ◆重 量:30公斤 ◆电 源:AC 110V/220V ◆测量时间:60~300秒 ◆◆仪器配置: ◆单样品腔 ◆计算机、喷墨打印机 ◆硅针半导体探测器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管
  • EDX3600L能量色散X荧光光谱仪 ◆◆技术指标: ◆分析范围: 1PPM-99.99% ◆同时分析: 几十种元素同时分析 ◆测镀层厚度精确至0.01微米 ◆测量对象: 固体、粉未、液体 ◆测量时间: 60-300 秒 ◆测量精度 : 0.05% ◆分析元素: Na-U ◆工作温度: 15-26℃ ◆相对湿度: ≤70% ◆重量 : 80KG ◆功耗: 200瓦 ◆◆仪器配置: ◆单样品腔 ◆计算机、喷墨打印机 ◆真空泵(可选) ◆压片机(可选) ◆硅针半导体探测器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管
  • EDX3600能量色散X荧光光谱仪 ◆◆技术指标: ◆分析范围: 1PPM-99.99% ◆同时分析: 几十种元素同时分析 ◆测镀层厚度精确至0.005微米 ◆测量对象: 固体、粉未、液体 ◆测量时间: 60-300 秒 ◆测量精度 : 0.05% ◆分析元素: Na-U ◆工作温度: 15-26℃ ◆相对湿度: ≤70% ◆重量 : 80KG ◆功耗: 200瓦 ◆◆仪 器 配 置: ◆多样自动进样系统 ◆计算机、喷墨打印机 ◆真空泵(可选) ◆压片机(可选) ◆硅针半导体探测器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管
  • EDX3000能量色散X荧光光谱仪 ◆◆技术指标: ◆分析范围:1PPM~99.99% ◆测量元素:从硫至铀等75种元素 ◆测量对象:粉末、固体、液体 ◆工作温度:15---30℃ ◆重 量:30Kg ◆电源:AC 110V/220V ◆测量时间:60~300秒 ◆测量精度:0.05% ◆◆仪器 配 置: ◆单样品腔 ◆计算机、喷墨打印机 ◆硅针半导体探测器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管 无真空腔体
  • EDX600能量色散X荧光光谱仪 ◆◆技术指标: ◆分析范围 :1PPM---99.99% ◆测量时间 :60---300 秒 ◆分析精度 :0.1%---99.99% ◆测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt ◆测镀层厚度、精度:0.03um ◆重 量 :30KG ◆尺 寸 :350*500*400mm ◆X射线源 :X射线光管。 ◆探测器 :正比计数管 ◆◆仪器配置: ◆单样品腔 ◆正比计数器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管
  • EDX3000B能量色散X荧光光谱仪 ◆针对RoHS检测设计开发 ◆测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 ◆分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br ◆也可以测量镀层厚度 ◆◆ROHS指令检测主要技术指标 ◆分析精度:0.05% ◆样品室尺寸:1000*1000*300MM ◆测量时间:60-300秒 ◆工作电源:220U±5U ◆高 压:15-50KV ◆管 流:600μA ◆计数率:1300-8000Cps ◆ ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM ◆检测时间为200秒 ◆电致冷硅针半导体探测器 ◆加强金属元素感度分析 ◆◆仪器基本配置 ◆单样品腔 ◆计算机、喷墨打印机 ◆硅针半导体探测器 ◆硅针半导体探测器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管 ◆无真空腔体